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  • JMTS-816磁光克爾效應測量系統高靈敏磁強計磁性測量

    磁光克爾效應測量系統高靈敏磁強計磁性測量 非接觸式測量,是一種無(wú)損測量系統;可以測量同一樣品厚度不等的楔形磁性薄膜。

    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家 點(diǎn)擊量:974 更新日期:2024-06-04
  • JMTS-816測量系統磁光效應原理分辨率(δ)0.001度

    測量系統磁光效應原理分辨率(δ)0.001度 起偏/檢偏器:格蘭-湯普森棱鏡,外徑25.4mm,通光孔徑10mm,消光比5*10^-5,角度范圍14~16°,波長(cháng)范圍350~2300nm。

    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家 點(diǎn)擊量:1005 更新日期:2024-06-04
  • JMTS-816磁光克爾效應測量系統磁學(xué)測量?jì)x器

    磁光克爾效應測量系統磁學(xué)測量?jì)x器 可測試材料:記錄磁頭,磁性薄膜,特殊磁介質(zhì),磁場(chǎng)傳感器 。

    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家 點(diǎn)擊量:1176 更新日期:2024-06-04
  • JMTS-816磁光克爾效應測量系統磁強計樣品磁性測量

    磁光克爾效應測量系統磁強計樣品磁性測量 廣泛應用于諸如磁性納米技術(shù)、自旋電子學(xué)、磁性薄膜、磁性隨機存儲器、GMR/TMR等磁學(xué)領(lǐng)域。

    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家 點(diǎn)擊量:1075 更新日期:2023-04-18
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