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JH60永磁體霍爾效應測試儀技術(shù)指標

更新時(shí)間:2023-01-30 點(diǎn)擊量:1289

JH60永磁體霍爾效應測試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

  霍爾效應系統組成:本儀器系統由永磁體、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高精度高斯計和系統軟件組成。為本儀器系統專(zhuān)門(mén)研制的 JH10 效應儀將恒流源,六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開(kāi)關(guān)組裝成一體,大大減化了實(shí)驗的連線(xiàn)與操作。JH10 可單獨做恒流源、微伏表使用。用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數,而這些參數是了解半導體材料電學(xué)特性必須預先掌控的,因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學(xué)特性*的工具。 實(shí)驗結果由軟件自動(dòng)計算得到,可同時(shí)得到體載流子濃度(Bulk Carrieroncentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。

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可測試材料:

半導體材料:SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等;

低阻抗材料:石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料等;

高阻抗材料:半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等

JH60永磁體霍爾效應測試儀技術(shù)指標:

* 磁 場(chǎng):大于 5000 高斯(間距 18mm)

* 樣品電流:±50 納安~±50 毫安(小可調節電流為 0.1nA)

* 測量電壓:0.1 微伏~30 伏

* 提供各類(lèi)測試標準材料,各級別硅與砷化鎵(靈敏度與精度不同)

* 小分辨率: 1GS

* 磁場(chǎng)范圍: 0.5T

* 配合高斯計或數采板可計算機通訊

* I-V 曲線(xiàn)及 I-R 曲線(xiàn)測量等

* 電阻率范圍:10-7~1011 Ohm*cm

* 電阻范圍:10 m Ohms~ 6MOhms

* 載流子濃度:103~1022cm-3

* 遷移率:0.1~108 cm2/volt*sec

* 溫區:常溫

* 測試全自動(dòng)化,一鍵處理

* 專(zhuān)業(yè)的歐姆接觸組合套件

JH60 測試時(shí),只需要輸入三個(gè)關(guān)鍵參數即可進(jìn)行測量,磁場(chǎng)的轉換為手動(dòng)轉換,需要轉換磁場(chǎng)方向時(shí)程序會(huì )彈出信息框,根據測試程序的提示完成相應的操作即可獲得樣品需要的參數。

測量時(shí)只需要設置好樣片通過(guò)的電流、樣片所在磁場(chǎng)環(huán)境的磁場(chǎng)大小、樣品厚度即可進(jìn)行測量,數據可以繪圖,可以導出至 EXCEL 中以便后期處理及使用。

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JH60永磁體霍爾效應測試儀系統構成:

永磁體霍爾效應測試系統由永磁體、高斯計、恒流源、計算機及軟件組成。其中,高

斯計測量永磁體磁場(chǎng)值;恒流源一方面給樣品提供電流,用于霍爾效應測試,一方面可以測

量樣品電壓;被測樣品置于樣品板上,由固定針固定;計算機連接高斯計、恒流源,通過(guò)軟

件實(shí)現控制通過(guò)被測樣品的電流,并獲取測得的電壓值。




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